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頭掃描原子力顯微鏡

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頭掃描原子力顯微鏡

FM-Nanoview LS-AFM

 

 國內首家實現樣品保持不動,探針移動掃描的商業化原子力顯微鏡;

 樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大樣品檢測;

 樣品臺可拓展性強,非常便于進行多儀器聯用實現原位檢測;

 電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現快速自動化檢測;

 龍門架式掃描頭設計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺;
 馬達自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品;
 高倍輔助光學顯微定位,實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域;

 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%。



技術參數

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應用案例

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